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- 2017年11月9日
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尖端x射线用于复合材料!
新一代x射线成像技术推动了可检测缺陷的极限，超越了普通的无损检测方法。
这种新型光子计数x射线成像探测器是由Advacam公司生产的，这些探测器拥有“聪明的”像素，包含能够处理探测到的每一个x射线光子的电雷竞技官网APP子设备。
复合材料无损检测(NDT)利用探测器的灵敏度来降低x射线能量，这提供了复合材料中最好的对比，并携带了关于内部结构的最多信息。因此，轻的材料，如碳纤维和环氧树脂很容易揭示更多的细节。气孔、异物、微裂纹等缺陷易于检测，分辨率可达55μm以上。由于这些新型器件的卓越灵敏度，即使是具有挑战性的缺陷，如深层压板皱纹、粘接和分层，也可以发现。
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